Study on scanning Lorentz force microscopy and displacement current measurements in organic thin-film transistors 走査型ローレンツ力顕微鏡と有機薄膜トランジスタの変位電流計測手法に関する研究

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Author

    • 鈴木, 聖一 スズキ, セイイチ

Bibliographic Information

Title

Study on scanning Lorentz force microscopy and displacement current measurements in organic thin-film transistors

Other Title

走査型ローレンツ力顕微鏡と有機薄膜トランジスタの変位電流計測手法に関する研究

Author

鈴木, 聖一

Author(Another name)

スズキ, セイイチ

University

東京工業大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

甲第7968号

Degree year

2010-03-26

Note and Description

博士論文

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000547763
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000549856
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 023314524
  • Source
    • NDL ONLINE

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