低アスペクト比RFPプラズマにおける準シングルヘリシティ状態の磁場計測による特性評価

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著者

    • 大木, 健輔 オオキ, ケンスケ

書誌事項

タイトル

低アスペクト比RFPプラズマにおける準シングルヘリシティ状態の磁場計測による特性評価

著者名

大木, 健輔

著者別名

オオキ, ケンスケ

学位授与大学

京都工芸繊維大学

取得学位

博士 (学術)

学位授与番号

甲第631号

学位授与年月日

2012-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000561019
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000563231
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023901042
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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