暗号モジュールの電力解析攻撃耐性の評価法に関する研究 Cryptographic module evaluation methods for resistance against power analysis attacks

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著者

    • 高橋, 芳夫 タカハシ, ヨシオ

書誌事項

タイトル

暗号モジュールの電力解析攻撃耐性の評価法に関する研究

タイトル別名

Cryptographic module evaluation methods for resistance against power analysis attacks

著者名

高橋, 芳夫

著者別名

タカハシ, ヨシオ

学位授与大学

横浜国立大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第1475号

学位授与年月日

2012-03-23

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000561514
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000563728
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 023907875
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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