Quantitative characterization of crystallinity of grain boundaries in nano-scale and its application to the strength evaluation of polycrystalline thin films ナノ結晶粒界品質評価手法の開発と多結晶薄膜材料強度物性評価への適用に関する研究

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著者

    • 村田, 直一 ムラタ, ナオカズ

書誌事項

タイトル

Quantitative characterization of crystallinity of grain boundaries in nano-scale and its application to the strength evaluation of polycrystalline thin films

タイトル別名

ナノ結晶粒界品質評価手法の開発と多結晶薄膜材料強度物性評価への適用に関する研究

著者名

村田, 直一

著者別名

ムラタ, ナオカズ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第14584号

学位授与年月日

2012-03-27

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000563654
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000565875
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 024018470
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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