Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC n型4H-SiCに対するNb基オーミック電極の微細組織、電気特性、および信頼性
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書誌事項
- タイトル
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Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC
- タイトル別名
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n型4H-SiCに対するNb基オーミック電極の微細組織、電気特性、および信頼性
- 著者名
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丁, 建華
- 著者別名
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ジョン, コンハ
- 学位授与大学
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東北大学
- 取得学位
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博士 (工学)
- 学位授与番号
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甲第14662号
- 学位授与年月日
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2012-03-27
注記・抄録
博士論文
