Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い

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Author

    • 胡, 明 フー, ミン

Bibliographic Information

Title

Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps

Other Title

ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い

Author

胡, 明

Author(Another name)

フー, ミン

University

島根大学

Types of degree

博士(工学)

Grant ID

甲第470号

Degree year

2012-09-24

Note and Description

博士論文

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000570654
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000572944
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 024457746
  • Source
    • NDL ONLINE

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