絶縁性試料のSEM-EDX分析

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

    • 泽, 龙 タク, リュウ

書誌事項

タイトル

絶縁性試料のSEM-EDX分析

著者名

泽, 龙

著者別名

タク, リュウ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第17518号

学位授与年月日

2013-03-25

注記・抄録

博士論文

新制・課程博士

甲第17518号

工博第3677号

1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000572490
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000574800
  • DOI(JaLC)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 024651651
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
ページトップへ