Surface charge measurements with high sensitivity and high resolution using Kelvin probe force microscopy ケルビンプローブ力顕微鏡による表面電荷の高感度・高分解能測定に関する研究

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著者

    • 馬, 宗敏 マ, ソウミン

書誌事項

タイトル

Surface charge measurements with high sensitivity and high resolution using Kelvin probe force microscopy

タイトル別名

ケルビンプローブ力顕微鏡による表面電荷の高感度・高分解能測定に関する研究

著者名

馬, 宗敏

著者別名

マ, ソウミン

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第16388号

学位授与年月日

2013-03-25

注記・抄録

博士論文

14401甲第16388号

博士(工学)

大阪大学

2013-03-25

26174

1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000573878
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000576200
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 024709459
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
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