Specific Ion Effects on Counterion Distribution in Surfactant Adsorbed Films Studied through Surface Tensiometry and Total Reflection XAFS 表面張力法および全反射XAFS法による界面活性剤吸着膜における対イオン分布に及ぼすイオンの特異効果
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著者
書誌事項
- タイトル
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Specific Ion Effects on Counterion Distribution in Surfactant Adsorbed Films Studied through Surface Tensiometry and Total Reflection XAFS
- タイトル別名
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表面張力法および全反射XAFS法による界面活性剤吸着膜における対イオン分布に及ぼすイオンの特異効果
- 著者名
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今井, 洋輔
- 学位授与大学
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九州大学
- 取得学位
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博士（理学）
- 学位授与番号
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甲第11790号
- 学位授与年月日
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2014-03-25
注記・抄録
元資料の権利情報 : 全文ファイル公表済
元資料の権利情報 : Fulltext available.
主1-参1
目次
- 2018-10-04 再収集 (4コマ目)
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- 2023-09-05 再収集 (7コマ目)
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