Specific Ion Effects on Counterion Distribution in Surfactant Adsorbed Films Studied through Surface Tensiometry and Total Reflection XAFS 表面張力法および全反射XAFS法による界面活性剤吸着膜における対イオン分布に及ぼすイオンの特異効果

Author

    • 今井, 洋輔

Bibliographic Information

Title

Specific Ion Effects on Counterion Distribution in Surfactant Adsorbed Films Studied through Surface Tensiometry and Total Reflection XAFS

Other Title

表面張力法および全反射XAFS法による界面活性剤吸着膜における対イオン分布に及ぼすイオンの特異効果

Author

今井, 洋輔

University

九州大学

Types of degree

博士(理学)

Grant ID

甲第11790号

Degree year

2014-03-25

Note and Description

元資料の権利情報 : 全文ファイル公表済

元資料の権利情報 : Fulltext available.

主1-参1

Table of Contents

  1. 2018-10-04 再収集 (4コマ目)
  2. 2018-10-04 再収集 (5コマ目)
  3. 2018-10-04 再収集 (6コマ目)
  4. 2023-09-05 再収集 (7コマ目)
  5. 2023-09-05 再収集 (8コマ目)
  6. 2023-09-05 再収集 (9コマ目)
2access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000925507
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000001582406
  • DOI(JaLC)
  • DOI
  • Text Lang
    • eng
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL Digital Collections
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