未然防止の為の潜在リスク抽出手法の系統的研究―電気・電子機器のリスク低減― ミゼンボウシノタメノセンザイリスクチュウシュツシュホウノケイトウテキケンキュウ―デンキ・デンシキキノリスクテイゲン―

著者

    • 門田, 靖
    • カドタ, ヤスシ
    • Kadota, Yasushi

書誌事項

タイトル

未然防止の為の潜在リスク抽出手法の系統的研究―電気・電子機器のリスク低減―

タイトル別名

ミゼンボウシノタメノセンザイリスクチュウシュツシュホウノケイトウテキケンキュウ―デンキ・デンシキキノリスクテイゲン―

著者名

門田, 靖

著者名

カドタ, ヤスシ

著者名

Kadota, Yasushi

学位授与大学

電気通信大学

取得学位

博士(工学)

学位授与番号

甲第865号

学位授与年月日

2016-06-24

注記・抄録

製造業者は製品安全事故の未然防止を強く求められており,積極的にR-MapやFMEAといったリスクアセスメント技法の導入を進めている.これを更に推し進めるために潜在リスク抽出,世の中のナレッジ活用,未然防止体系の強化について研究した.新しい潜在リスク抽出技法として,上市されている商品の中から“機能上の競合製品”“ 同一使用環境使用製品”“ 類似構造製品”を抽出し,更にそれらの公開情報から潜在リスクを抽出できること及び公開安全事故情報を隣接行列によりモデル化し,自社の安全事故情報や安全規格の基準との比較解析により潜在リスクを抽出できることを提案できた.またリスク評価やリスク対応に対して,国際標準を活用することに有効性を明らかにした.これらにより製造業者にとって製品安全に関するナレッジ不足している領域でも,未然防止のためのリスクマネジメントが展開できる.最終的にはこれらのプロセスを含む未然防止プロセスを提案した.

開始ページ : 1

終了ページ : 96

2016

49アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000980554
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001603156
    • 8000001603157
    • 8000001603158
  • 本文言語コード
    • jpn
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ