Messungen an einem verbesserten korrigierten Elektronenmikroskop
収録刊行物
-
- Optik
-
Optik 60 353-370, 1982
- Tweet
詳細情報
-
- CRID
- 1571980073978921472
-
- NII論文ID
- 80001366575
-
- データソース種別
-
- CiNii Articles