Messungen an einem verbesserten korrigierten Elektronenmikroskop

収録刊行物

  • Optik

    Optik 60 353-370, 1982

被引用文献 (2)*注記

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詳細情報

  • CRID
    1571980073978921472
  • NII論文ID
    80001366575
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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