Atomic force microscope - force and profiling on a sub 100 - A scale

• MARTIN Y.

収録刊行物

• j. appl.phys

  j. appl.phys 61 (10), 4723-4729, 1987

詳細情報

• CRID: 1570572701684973568
• NII論文ID: 80003468213
• NII書誌ID: AA00693547
• データソース種別:
  • CiNii Articles