マイクロ波 ミリ波帯における複素誘電率測定

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  • エレクトロニクス セラミクス

    エレクトロニクス セラミクス 19, 20-28, 1988

Cited by:  2

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    80003916698
  • Article Type
    Journal Article
  • Data Source
    CJPref 
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