High-resolution reflection electron microscopy of Si(111)7×7 surfaces using a highvoltage electron microscope
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収録刊行物
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- Jpn J. Appl. Phys.
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Jpn J. Appl. Phys. 28 861-865, 1989
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571417126622929664
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- NII論文ID
- 80004740945
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- NII書誌ID
- AA10457675
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- データソース種別
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- CiNii Articles