Infrared Evenescent-field Microscope Using CO2 Laser for Reflectance Measurement
収録刊行物
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- Optik
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Optik 94 159-162, 1993
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詳細情報
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- CRID
- 1571980076603577984
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- NII論文ID
- 80007293369
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- データソース種別
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- CiNii Articles