Infrared Evenescent-field Microscope Using CO2 Laser for Reflectance Measurement

収録刊行物

  • Optik

    Optik 94 159-162, 1993

被引用文献 (2)*注記

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詳細情報

  • CRID
    1571980076603577984
  • NII論文ID
    80007293369
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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