Proton induced single event upset in 6T SOI SRAMs

• LIU H. Y.

収録刊行物

• IEEE Trans. Nucl. Sci.

  IEEE Trans. Nucl. Sci. 53 3502-3505, 2006

詳細情報

• CRID: 1571980076397949824
• NII論文ID: 80018691482
• データソース種別:
  • CiNii Articles