Semiconductor international : processing, assembly & testing
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書誌事項
Semiconductor international : processing, assembly & testing
Milton S. Kiver, -2010
- -v. 33, no. 4 (Apr. 2010)
- タイトル別名
-
Semicond. int
Semiconductor international
大学図書館所蔵 件 / 全6件
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神奈川県立川崎図書館収蔵C1984-2002
7-13,
14(1-7, 9-11, 13), 15(7-13), 17(1-6, 8-14), 18(1-6, 8-14), 19(1-6, 8-14), 20(1-6, 8-14), 21, 22(1-6, 8-14), 23(1-2), 25 OPAC
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中部大学 附属三浦記念図書館図1998-2006P549||Se
21(13),
22(1, 4-5, 8, 12), 23(1-4, 6, 10), 24(9), 26(10, 12), 27(1, 3-6, 8-13), 28(1-6, 8-9, 11-13), 29(1-4, 6, 8-13) -
東京科学大学 大岡山図書館図書館1980-1996
3-5,
6(1-6), 7(2-12), 8(1, 3-12), 9(1-2, 4-13), 10, 11(1-9, 11-13), 12(1-4, 13), 13(1-12), 18(1-6, 8-11, 13), 19(1-2, 4-6, 8-14) -
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注記
Description based on: Vol. 2, no. 2 (Mar. 1979)
Title from cover
Imprint varies: Cahners (<Vol. 7, no. 1 (Jan. 1984)>-)
Other title information dropped (Vol. 20, no. 8 (July 1997)-)
Volume numbering of US MARC: Vol. 1 (Nov./Dec. 1978)-