Proceedings of the ... International Symposium for Testing & Failure Analysis

著者

書誌事項

Proceedings of the ... International Symposium for Testing & Failure Analysis

sponsored by the Electric Materials and Processing Division of ASM International

ASM International

タイトル別名

ISTFA

大学図書館所蔵 件 / 1

この図書・雑誌をさがす

注記

Description based on 17th (1991)

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    AA11680059
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Materials Park, Ohio
  • 出版状況
    刊行中
  • 刊行頻度
    年刊
  • 定期性
    定期
ページトップへ