VLSI testing

著者

• Williams, T. W.

書誌事項

VLSI testing

edited by T.W. Williams

（Advances in CAD for VLSI, v. 5）

North-Holland , Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science, 1986

注記

Includes bibliographies

• NII書誌ID(NCID): BA00276923
• ISBN:
  • 0444878955
• LCCN: 86004410
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Amsterdam ; New York,New York
• ページ数/冊数: ix, 275 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC19 : 621.395
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00122657