Digital logic testing and simulation

著者

• Miczo, Alexander

書誌事項

Digital logic testing and simulation

Alexander Miczo

Harper & Row, c1986

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA01042291
• ISBN:
  • 0060444444
• LCCN: 85021884
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 414 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7868.D5
  • DC19 : 621.3815
• 件名:
  • LCSH : Digital electronics -- Testing