Developments in integrated circuit testing

著者

• Miller, D. M.

書誌事項

Developments in integrated circuit testing

D.M. Miller, editor

（Perspectives in computing, v. 18）

Academic Press, 1987

注記

Includes bibliography and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA03599000
• ISBN:
  • 0124967353
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: x, 440 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC19 : 621.381/71
• 件名:
  • PRECIS : Digital integrated circuits. Testing
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00505463