Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits

著者

• Howes, M. J.
• Morgan, D. V.

書誌事項

Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits

edited by M.J. Howes, D.V. Morgan

（The Wiley series in solid state devices and circuits）

J. Wiley, c1981

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA03687119
• ISBN:
  • 0471280283
• LCCN: 80042310
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Chichester ; New York
• ページ数/冊数: xii, 444 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.85
  • DC19 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA00213967