Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

著者

• Grasserbauer, M. (Manfred)
• Dudek, H. J. (Hans Joachim)
• Ebel, M. F. (Maria F.)

書誌事項

Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

M. Grasserbauer, H.J. Dudek, M.F. Ebel

Springer-Verlag, c1986

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• :gw

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA03932438
• ISBN:
  • 0387150501
  • 3540150501
• LCCN: 86230695
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: ger
• 本文言語コード: ger
• 出版地: Berlin ; Tokyo
• ページ数/冊数: viii, 300 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QD506
  • DC19 : 541.3/453
• 件名:
  • LCSH : Surface chemistry
  • LCSH : Secondary ion mass spectrometry
  • LCSH : X-ray spectroscopy