Symposium on microscopy : presented at the sixty-second annual meeting, American Society for Testing Materials, Atlantic City, N.J., June 25-26, 1959

著者

    • American Society for Testing Materials

書誌事項

Symposium on microscopy : presented at the sixty-second annual meeting, American Society for Testing Materials, Atlantic City, N.J., June 25-26, 1959

(ASTM special technical publication, no. 257)(Sixty-second annual meeting papers)

A.S.T.M., c1959

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA04288709
  • LCCN
    59015654
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Philadelphia
  • ページ数/冊数
    165 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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