Robustness of single unit test statistics in the presence of multiple unit roots

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Robustness of single unit test statistics in the presence of multiple unit roots

Sen, David Lawrence

Univeristy Microfilms International, 1985

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注記

Reproduction of a microfilm copy of the original document

Thesis (doctoral)--North Carolina State University at Raleigh , 1985

Bibliography: p. 159-160

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA04872331
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 出版地
    Ann Arbor
  • ページ数/冊数
    160 p.
  • 大きさ
    21 cm
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