Selected papers on analog fault diagnosis

著者

• Liu, Ruey-Wen

書誌事項

Selected papers on analog fault diagnosis

edited by Ruey-Wen Liu

（Advances in circuits and systems）

IEEE Press, c1987

• : pbk

タイトル別名

Analog fault diagnosis

注記

Spine title: Analog fault diagnosis

Includes bibliographies and index

"IEEE order number: PPO213-9" -- t.p. verso

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA04962740
• ISBN:
  • 087942222X
• LCCN: 87003957
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: iii, 143 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • LCC : TK7870
  • DC19 : 621.381/028/5
• 件名:
  • LCSH : Analog electronic systems -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA04251130