General aspect

著者

• Sandell, E. B. (Ernest Birger)
• 大西, 寛 オオニシ, ヒロシ

書誌事項

General aspect

E. B. Sandell and Hiroshi Onishi

（Chemical analysis, v. 3 . Photometric determination of traces of metals ; pt. 1., 2）

Wiley, 1978

4th ed

注記

"A Wiley-Interscience publication."

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07242114
• ISBN:
  • 0471030945
• LCCN: 77018937
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: 2v.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD139.T7
  • DC : 546/.3
• 件名:
  • LCSH : Trace elements -- Analysis
  • LCSH : Metals -- Analysis
  • LCSH : Colorimetric analysis
• 親書誌ID:
  • BA00071272