Reliability, test and diagnostics

著者

• Hakim, Edward B.

書誌事項

Reliability, test and diagnostics

[edited by] Edward B. Hakim

（The Artech House materials science library, . Microelectronic reliability ; v. 1）

Artech House, c1989

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07497079
• ISBN:
  • 0890062846
• LCCN: 88007814
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Norwood, MA
• ページ数/冊数: xviii, 374 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.85
  • DC19 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA07497137