Defect analysis in electron microscopy

著者

• Loretto, M. H.
• Smallman, R. E.

書誌事項

Defect analysis in electron microscopy

M. H. Loretto and R. E. Smallman

Chapman and Hall , Wiley : distributed by Halstead Press, c1975

• pbk

注記

"A Halsted Press book."

Bibliography: p. 131

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07577713
• ISBN:
  • 0412137607
  • 0412137704
• LCCN: 75025615
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London,New York
• ページ数/冊数: ix, 134 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD921
  • DC : 548/.84
• 件名:
  • LCSH : Crystals -- Defects
  • LCSH : Electron microscopy