ICMTS 1989 : Proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh - Scotland, 13-14th March 1989

書誌事項

ICMTS 1989 : Proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures, Edinburgh - Scotland, 13-14th March 1989

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1989

タイトル別名

1989 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

89CH26930

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注記

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IEEE Catalog Number 89CH2693-0

詳細情報
  • NII書誌ID(NCID)
    BA07667554
  • ISBN
    • 0879427140
  • LCCN
    88084125
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York, N.Y.
  • ページ数/冊数
    xii, 265 p.
  • 大きさ
    30 cm
  • 件名
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