Proceedings : Forty-seventh annual meeting : Electron Microscopy Society of America, San Antonio, Texas, 6-11 August 1989

著者

• Electron Microscopy Society of America
• Bailey, G. W.
• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : Forty-seventh annual meeting : Electron Microscopy Society of America, San Antonio, Texas, 6-11 August 1989

edited by G. W. Bailey

San Francisco Press, c1989

タイトル別名

Electron Microscopy

注記

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07673910
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Francisco, CA
• ページ数/冊数: xli, 1115 p.
• 大きさ: 26 cm