Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989

著者

• European Test Conference
• Société des électriciens et des électroniciens
• IEEE Computer Society
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989

IEEE Computer Society Press, c1989

• : pbk.
• : microfiche
• : hard

注記

"[Sponsored by] Société des électriciens et des électroniciens, IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc."

"IEEE Computer Society order number 1937."

"IEEE Catalog Number 89CH2696-3"

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07686774
• ISBN:
  • 0818619376
  • 0818659378
  • 0818689374
• LCCN: 88084042
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington, D.C.
• ページ数/冊数: xiv, 417 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.381/548
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Testing -- Congresses
  • LCSH : Automatic test equipment -- Congresses