Integrity assessment and assurance

著者

• Pollino, Emiliano

書誌事項

Integrity assessment and assurance

[edited by] Emiliano Pollino

（The Artech House materials science library, . Microelectronic reliability ; v. 2）

Artech House, c1989

タイトル別名

L'affidabilità dei componenti elettronoci a semiconduttore

注記

Includes bibliographies and index

• NII書誌ID(NCID): BA07843850
• ISBN:
  • 0890063508
• LCCN: 88007814
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Norwood, MA
• ページ数/冊数: xv, 537 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.85
  • DC19 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA07497137