VLSI reliability

著者

• Sabnis, Anant G.

書誌事項

VLSI reliability

Anant G. Sabnis

（VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch, v. 22）

Academic Press, c1990

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA10165146
• ISBN:
  • 0122341228
• LCCN: 89017892
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego ; Tokyo
• ページ数/冊数: xiii, 207 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.39/5 s
  • DC20 : 621.39/5
  • NDC8 : 549.7
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA00191015