Digital systems testing and testable design

著者

• Abramovici, Miron
• Breuer, Melvin A.
• Friedman, Arthur D.

書誌事項

Digital systems testing and testable design

Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman

（Electrical engineering communications and signal processing series）

Computer Science Press, c1990

注記

Includes bibliographical references (p. 644-645) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA10764209
• ISBN:
  • 0716781794
• LCCN: 89025259
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York, NY
• ページ数/冊数: xxi, 653 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.381/5
• 件名:
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Design and construction
• 親書誌ID:
  • BA00433704