Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution

著者

• Tsong, Tien Tzou

書誌事項

Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution

Tien T. Tsong

Cambridge University Press, 1990

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA10978621
• ISBN:
  • 0521363799
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Cambridge
• ページ数/冊数: x, 387 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • DC20 : 502.82
• 件名:
  • PRECIS : Field ionisation microscopy