Diagnostic electron microscopy

著者

• Johannessen, Jan Vincents
• Sobrinho-Simões, Manuel

書誌事項

Diagnostic electron microscopy

Jan Vincents Johannessen with the cooperation of Manuel Sobrinho-Simões

Hemisphere, c1982

• :us
• :uk

注記

Bibliography: p. 209-210

Includes index

• NII書誌ID(NCID): BA11165833
• ISBN:
  • 007032543X
• LCCN: 82001101
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington ; London
• ページ数/冊数: vii, 210 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : RB43.5
  • DC19 : 616.07/58
• 件名:
  • LCSH : Diagnosis, Electron microscopic -- Case studies
  • MESH : Microscopy, Electron