Transport, correlation and structural defects

著者

• Fritzsche, Hellmut

書誌事項

Transport, correlation and structural defects

edited by Hellmut Fritzsch

（Advances in disordered semiconductors, v. 3）

World Scientific, c1990

• : pbk.

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA11721154
• ISBN:
  • 9971509733
  • 9971509741
• LCCN: 90026281
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore ; Teaneck, N.J.
• ページ数/冊数: x, 305 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.6.D4
  • DC20 : 537.6/22
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Defects
  • LCSH : Order-disorder models
• 親書誌ID:
  • BA06523082