Practical analytical electron microscopy in materials science

著者

• Williams, David B. (David Bernard)

書誌事項

Practical analytical electron microscopy in materials science

David B. Williams

Electron Optics Pub. Co., 1987

[Rev. ed]

注記

Includes bibliographies and index

• NII書誌ID(NCID): BA1203598X
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Mahwah, N.J.
• ページ数/冊数: vii, 153 p.
• 大きさ: 29 cm
• 分類:
  • LCC : TA417.23
  • DC19 : 620.1/1/0287
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Electron microscopy