Das deutsche Patentinformationssystem : Entwicklungstendenzen, Retrievaltests und Bewertungen

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Das deutsche Patentinformationssystem : Entwicklungstendenzen, Retrievaltests und Bewertungen

herausgegeben von Jürgen Krause und Christa Womser-Hacker ; mit einem Vorwort von Erich Häußer

Heymanns, c1990

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注記

Bibliography: p. 177-183

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA12144464
  • ISBN
    • 345221799X
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    ger
  • 本文言語コード
    ger
  • 出版地
    Köln
  • ページ数/冊数
    xiv, 185 p.
  • 大きさ
    23 cm
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