Characterization of epitaxial semiconductor films

書誌事項

Characterization of epitaxial semiconductor films

edited by Henry Kressel

(Methods and phenomena, their applications in science and technology, v. 2)

Elsevier Scientific Pub. Co., 1976

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注記

"Published as a special issue of Thin solid films, vol. 31, issues 1 and 2."

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA12738844
  • ISBN
    • 044441438X
  • LCCN
    76372967
  • 出版国コード
    ne
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Amsterdam ; New York
  • ページ数/冊数
    xii, 216 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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