International symposium on electron microscopy, Beijing, China, October 22-23, 1990

著者

• International Symposium Electron Microscopy
• Kuo, Kʿo-hsin
• Yao, Chün-en

書誌事項

International symposium on electron microscopy, Beijing, China, October 22-23, 1990

editors, Kehsin Kuo and Junen Yao

World Scientific, c1991

タイトル別名

Electron microscopy

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA12797628
• ISBN:
  • 9810205317
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore
• ページ数/冊数: xii, 478 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.E4
  • DC20 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy -- Congresses
  • LCSH : Electron microscopy -- Technique -- Congresses
  • LCSH : Electron microscopy -- China -- Congresses