The Test access port and boundaryscan architecture

著者

• Maunder, Colin M.
• Tulloss, Rodham E.

書誌事項

The Test access port and boundaryscan architecture

[edited by] Colin M. Maunder and Rodham E. Tulloss

（IEEE Computer Society Press tutorial）

IEEE Computer Society Press, c1990

• : case
• : microfiche

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA12823105
• ISBN:
  • 0818690704
  • 0818660708
• LCCN: 90039682
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Los Alamitos, Calif.
• ページ数/冊数: xxii, 372 p.
• 大きさ: 29 cm
• 分類:
  • LCC : TK7867
  • DC20 : 621.381
• 件名:
  • LCSH : Electronic circuits -- Testing -- Data processing
  • LCSH : Computer architecture
• 親書誌ID:
  • BA12134733