Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

著者

• Jakubowski, Andrzej
• Marciniak, Wiesław
• Przewłocki, Henryk M.

書誌事項

Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

Andrzej Jakubowski, Wiesław Marciniak, Henryk M. Przewłocki

（Advanced series in electrical and computer engineering, vol. 7）

World Scientific, 1991

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA12908740
• ISBN:
  • 9810202822
• LCCN: 91003700
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore ; Teaneck, N.J.
• ページ数/冊数: xv, 356 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.39/5
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA07409286