Digital circuit testing : a guide to DFT and other techniques

著者

• Wang, Francis C.

書誌事項

Digital circuit testing : a guide to DFT and other techniques

Francis C. Wang

Academic Press, 1991

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA12997977
• ISBN:
  • 0127345809
• LCCN: 90029033
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego
• ページ数/冊数: xi, 233 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.381/5
• 件名:
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing