Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications
著者
書誌事項
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications
（Optical engineering, v. 29）
M. Dekker, c1991
2nd ed., rev. and expanded
大学図書館所蔵 件 / 全9件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
注記
Includes bibliographical references and indexes
