Testing semiconductor memories : theory and practice

著者

• Goor, A. J. van de.

書誌事項

Testing semiconductor memories : theory and practice

A.J. van de Goor

J. Wiley & Sons, 1991

• disk

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA13559501
• ISBN:
  • 0471925861
  • 047192587X
• LCCN: 91020658
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Chichester ; New York
• ページ数/冊数: xxiii, 512 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7895.M4
  • DC20 : 621.381/52
• 件名:
  • LCSH : Semiconductor storage devices -- Testing