Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991

書誌事項

Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991

edited by Gordon Davies, Gary G. DeLeo and Michael Stavola

(Materials science forum, v. 83-87)

Trans Tech Publications, c1992

  • : set
  • pt. 1
  • pt. 2
  • pt. 3

タイトル別名

Defects in semiconductors 16

大学図書館所蔵 件 / 13

この図書・雑誌をさがす

関連文献: 1件中  1-1を表示

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA13702321
  • ISBN
    • 0878496289
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Zürich, Switzerland
  • ページ数/冊数
    3 v. (1604 p.)
  • 大きさ
    25 cm
  • 分類
  • 親書誌ID
ページトップへ