Introduction to semiconductor device yield modeling

著者

• Ferris-Prabhu, Albert V.

書誌事項

Introduction to semiconductor device yield modeling

Albert V. Ferris-Prabhu

（The Artech House materials science library）

Artech House, c1992

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA18652333
• ISBN:
  • 0890064504
• LCCN: 92010875
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xii, 91 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.85
  • DC20 : 621.381/52
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Defects
  • LCSH : Semiconductor industry -- Quality control
• 親書誌ID:
  • BA04825670